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精智達(dá)：DRAM晶圓老化測(cè)試設(shè)備進(jìn)入驗(yàn)證階段

2023-09-13 11:03:08

每經(jīng)AI快訊，精智達(dá)在投資者互動(dòng)平臺(tái)表示，目前公司DRAM晶圓老化測(cè)試設(shè)備，已完成技術(shù)開(kāi)發(fā)和測(cè)試等工作，進(jìn)入驗(yàn)證階段；DRAM測(cè)試機(jī)仍處于持續(xù)研發(fā)測(cè)試階段。

責(zé)編 姚祥云

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